球坑測厚儀采用一種簡易實用的鍍層厚度測試方法,主要用于膜層厚度大于1微米的硬質膜、固體潤滑膜、陶瓷膜、金屬膜等各種膜層的檢測。對樣品要求不高,建議采用20*30*2mm的平面樣片。詳細使用答疑請至產品頁下載FAQ查閱。
薄膜應力測量儀是基于基片彎曲法原理,利用Stoney方程,用于能反射激光的各種剛性基本表面的薄殘余應力的測試,樣片要求長寬比在5:1-10:1的長方形薄片(厚1-2mm)。